יצרן העדשות Cooke Optics יציג בתערוכת IBC את המערכת לבדיקת עדשות Cooke Metrology Lens Test Projector שמיועדת לזהות פגמי ו artifacts בעדשות מודרניות. המערכת כוללת נורת טונגסטן קרמית 200 וואט, משנק לעמעום אלקטרוני, חיבור לתאורת USB, מחבר 12v XLR וחיבור לעדשות מסוג PL, EF ולעדשות ניקון.
עוד תציג החברה בתערוכת עדשות T2.8 miniS4/i וגרסאות חדשות לעדשות 40 מ"מ ו-65mm T2.8.
